Крошечные дефекты чипов являются основой для создания уникальных идентификаторов RFID, которые невозможно клонировать.

Уникальный чип-идентификатор RFID


В свете перспектив создания и внедрения электронных паспортов, удостоверений личности и электронных платежных средств, все более остро встает вопрос о создании принципиально новых методов идентификации, которые невозможно подделать или клонировать. По мнению ученых из Массачусетского технологического института в качестве таких уникальных идентификаторов могут выступать крошечные дефекты, возникающие при производстве чипов и микросхем на атомном типе. Как ни совершенны технологии изготовления полупроводников в настоящее время, эти крошечные дефекты являются неотъемлемой частью каждого экземпляра полупроводникового прибора, хотя, практически не влияют на его общую работоспособность.

Даже при широкомасштабном массовом производстве одинаковых полупроводниковых приборов невозможно найти два совершенно идентичных прибора. Эта разница может возникать вследствие использования проводников и соединений различной толщины, неравномерного распределения примесей в полупроводниковом материале и еще по целому ряду других причин технологического характера. Срини Деядас (Srini Devadas), инженер-электронщик из Массачусетского технологического института, увидел в этих различиях полупроводниковых приборов ключ к созданию уникальной системы идентификации, не поддающейся клонированию или подделке.

Используя последовательности тестовых сигналов, проходящих через микрочип идентификации, можно получить ряд чисел, уникальных для каждого экземпляра чипа. Данная последовательность становится основой для дальнейших математических преобразований и протокола обмена информацией, основанная на принципе запрос-ответ, формируя, таким образом, уникальный код для каждого устройства идентификации. Это подразумевает то, что злоумышленнику не удастся клонировать чип RFID, даже если ему удастся перехватить и расшифровать передаваемые и принимаемые радиосигналы, из-за того, что невозможно будет идентифицировать и точно воспроизвести каждый дефект конкретного чипа.

Эти специальные идентификационные чипы, произведенные таким образом, что в них присутствует достаточное количество дефектов на атомном уровне, на самом деле являются только одной частью более сложных систем идентификации, безопасности и контроля доступа. В настоящее время компания Verayo, основанная Срини Деядас, уже заключила долгосрочный контракт с американским Министерством обороны и другими подрядчиками на создание самых совершенных в настоящее время систем идентификации RFID, использующих дефекты полупроводниковых приборов.




Ключевые слова:
Чип, Микросхема, Полупроводник, Прибор, Дефект, Атом, Схема, Сигнал, RFID, Идентификация, Безопасность, Контроль, Доступ

Первоисточник

Другие новости по теме:
  • Создан защищенный RFID-чип, который сделает невозможной "кражу личности"
  • Разработана технология, позволяющая устранить дефекты материалов одноатомно ...
  • Электронные чипы получат систему защиты от подделок, основанную на цифровом ...
  • Сможет ли графен полностью заменить кремний в электронике?
  • Новый RFID датчик от GE может обнаружить в воздухе химические вещества и бо ...




  • 16 марта 2010 09:19
    #1 Написал: Transporter

    Публикаций: 781
    Комментариев: 148
    Всегда на каждую хитрость найдется левая резьба, дело только в количестве времени затраченного на это
        
    16 марта 2010 11:16
    #2 Написал: Electronic

    Публикаций: 617
    Комментариев: 129
    Transporter
    Именно во времени все и дело. На взлом, клонирование и т.п. для подобной технологии времени потребуется столько, что это перестанет быть актуальным. А когда найдут быстрый метод - тогда уже и новую технологию придумают, а может и слегка модифицируют эту, заставив злоумышленников проходить все круги ада по-новой.
        
    16 марта 2010 12:34
    #3 Написал: FomaNeverujuwij

    Публикаций: 0
    Комментариев: 3877
    Интересно, как они будут учитывать, что со временем у полупроводников немного меняются характеристики, да и от других условий типа освещенность, температура, они, эти характеристики, тоже зависят не слабо?


    --------------------
        
    16 марта 2010 17:29
    #4 Написал: serji

    Публикаций: 0
    Комментариев: 0
    может быть они нашли - параметры микросхем -с временем изменения на протяжении всей жизни изделия. другое дело зачем уж так сложно -если только для спецтехники.
        
    16 марта 2010 18:20
    #5 Написал: Informatic

    Публикаций: 2953
    Комментариев: 19
    serji А разве системы контроля доступа, идентификации и безопасности - это не спецтехника?
        
    17 марта 2010 16:16
    #6 Написал: serji

    Публикаций: 0
    Комментариев: 0
    если массовая технология wink
        

    Информация

    Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии к данной публикации.